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日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試

簡要描述:日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

  • 更新時間:2025-02-23
  • 訪  問  量:7702
  • 廠商性質:代理商
  • 產品型號:ECM-100
品牌其他品牌產地進口
加工定制使用電源AC100V 50/60Hz
計測Channel數10CH計測電阻值范圍2kΩ~10TΩ
制御Channel數5~100CH(5Channel單位)主PC通信機能LAN接觸口×1
環境試驗機通信機能RS-232C接觸口×2自動校正bias輸出補正,異常leak電流檢測
計測線TRIAXIAL線 (耐熱溫度:200度)

日本J-RAS離子遷移測試裝置
追求高性能、高信賴性、高便利性的系統構成。

ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統,并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。

作為系統構成我們準備了40CH/100CH型,可以根據您的預算、設置空間來進行選擇。

高機能

*PC設定試驗條件之后,就可以不使用PC來繼續進行試驗。

*使用ECM-100主機就可對HAST/試驗槽進行自動控制,試驗狀況可以用ECM-100進行變更/監視。

*HAST/試驗槽的開門功能等的聯動裝置功能也是標準裝備的

*沒有通信機能的HAST/試驗槽,也可以通過模擬輸入來監視濕度

 

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產品優勢

簡單/便利

△采用高性能驅動計測,測試時焊接工序大幅減少。

△軟件設計簡單明了,能夠非常直觀得操作。

△配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。

△測試中,設備可以單獨運行,電腦電源切斷也不受影響。

高性能&高機能

△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路,可以做到16ms的計測間隔。

→遷移現象的檢測能力更高,對產品品質把控更精準。

△一臺電腦最大可以增設400通道。

△每個通道可以設定不同的電壓。

可靠性更高&操作更簡潔

△具有自身診斷機能,把異常計測防范于未然。

△配有CF卡,以防設備故障數據丟失。

△每個單元獨立,其中一個單元損壞,可以單獨拆卸維修,而不影響其他通道使用。

△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

用途

△PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置,可以在多領域利用。

實例

△測試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進行測試。

△16msec的高速抽樣處理,不會漏掉任何一個數據。

△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。

 

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計測Channel數 10CH
計測電阻值范圍 2kΩ~10TΩ
DCbias印加 電壓范圍 2范圍 (1.0~30.0V,30.1~300.0V)
電壓范圍設定 1組(5CH)
電壓級別設定 Channel個別
設定分解能 0.1V
設定精度 ±{0.3%(F.S.)+0.5}V
最大輸出電流 700μA/CH
DCbias計測 計測范圍 2范圍 (0~33V,0~330V)
計測精度 ±{0.3%(F.S.)+0.5}V
計測分解能 0.1V~(整數+小數點以下1行表示)
AD轉換器 24bits⊿∑AD轉換器/CH
計測速度 16msec/10CH
電流計測 計測方式 CHANNEL個別HIGH-SIDE電流計測方式
計測范圍 5范圍(~500μA,~50μA,~2.5μA,~125nA,~6.25nA)
計測范圍設定 CHANNEL個別或者自動范圍
計測精度 ±0.3%(F.S.)
計測分解能 1pA~(有效數字4行表示)
AD轉換器 24bits⊿∑AD轉換器/CH
計測速度 16msec/100CH
制御Channel數 5~100CH(5Channel單位)
數據收錄 試驗制御單位 1組(5CH)
試驗設定小時 1分~9999小時
收錄間隔(定期) 1分~60分
收錄間隔(ECM發生時) 16msec
收錄媒體 Compact flashcard
其他 主PC通信機能 LAN接觸口×1
環境試驗機通信機能 RS-232C接觸口×2
外部輸入1 接點輸入×4(聯動裝置,緊急停止制御可)
外部輸入2 電壓輸入(1-5V)×2,電流輸入(4-20mA)×2(溫度·溫度記錄可)
自動校正 bias輸出補正,異常leak電流檢測

 

 

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